
工艺说明:
1、计量院区熔计量设备有2套温场,可以用不同生长速率和不同组分来做比较试验。
2、区熔炉膛用手工方法微调保温层厚度和长度来确定温度梯度,在炉膛测温孔可以测定晶体生长所需温度梯度和合适温场。
3、生长轴长:800mm
4、自动移动速率:5~10mm/时(控制精度0.1㎜)
5、快速移动速率:5-20mm/分
6、不锈钢温场架2套
7、可调节上下托盘,带真空KF接口
8、独立控制柜,液晶触摸屏显示,以实现数据的存储、输出,可通过U盘复制到计算机上,曲线实时显示屏;让程序设置更快捷,设备运行状态更直观,设定数据和操作都是图文界面,操作方便;针对数据的存储、输出,可以预设多条加热曲线,可通过USB接口复制数据到计算机上长期保存。
技术参数:
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晶体石英系列
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实验设备系列
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中国科学院上海光学精密机械研究所红外光学材料研究中心光电子材料仪器事业部
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